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Erweiterung für Emsis optimiert Prüfung metallischer Oberflächen

Das Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA) präsentiert auf der SPS/IPC/DRIVES vom 25. bis 27. November 2009 in Nürnberg Erweiterungen zu seiner Mess- und Prüfsoftware "Emsis" für schwierige Prüfaufgaben. So erkennt ein jetzt für Emsis verfügbarer Prüfablauf sowie ein speziell entwickeltes Erweiterungsmodul durch selbstadaptive Fehlerdetektion Beschädigungen an metallischen Bauteilen mit texturierter Oberfläche, die durch Dreh-, Schleif-, Fräsbearbeitung oder Galvanisierung entstanden sind.

Das neue Prüfkonzept orientiert sich an der Fähigkeit des Menschen, Unregelmäßigkeiten auch in unbekannten Oberflächen zu erkennen. Im Gegensatz zu konventionellen Prüfungen ergeben sich Defekte nicht mehr als Abweichung gegenüber einer extern definierten Sollstruktur, sondern als Störung der im Bild dominierenden Struktur. Mit diesem Prüfkonzept vereinfachen die Fraunhofer-Forscher die praktische Realisierung von Oberflächenprüfungen, da Schwellwerte zur Trennung von Gut- und Schlechtklasse nicht mehr für jede Produktvariante festgelegt werden müssen. Erlaubte Schwankungen in der Oberflächenstruktur sollen dadurch abgefangen werden.

Bis dato werden für die Prüfung im Einlernmodus die auszuführenden Messungen direkt in eine Aufnahme des Musterteils eingetragen und mit Sollwerten und Toleranzen versehen. Lageabweichungen während des Messablaufs können durch frei definierbare Teilekoordinatensysteme ausgeglichen werden. Durch die Wahl einer geeigneten Kombination von Kamera, Objektiv und Beleuchtung kann das Bildverarbeitungspaket Emsis an eine große Vielfalt von Werkstücken individuell für die verschiedensten Aufgabenstellungen angepasst werden.
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