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Erschienen in:

2024 | OriginalPaper | Buchkapitel

Translucent Precision: Exploiting Enabling Information to Evaluate the Quality of Process Models

verfasst von : Harry Herbert Beyel, Wil M. P. van der Aalst

Erschienen in: Research Challenges in Information Science

Verlag: Springer Nature Switzerland

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Abstract

An event log stores information about executed activities in a process. Conformance-checking techniques are used to measure the quality of a process model using an event log. Part of the investigated quality dimensions is precision. Precision puts the behavior of a log and a model in relation. There are event logs that also store information about enabled activities besides the actual executed activities. These event logs are called translucent event logs. A technique for measuring precision is escaping arcs. However, this technique does not consider information on enabled activities contained in a translucent event log. This paper provides a formal definition of how to compute a precision score by considering translucent information. We discuss our method using a translucent event log and four different models. Our translucent precision score conveys the underlying concept by considering more information.

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The notion of “behavior” is left vague here. There is the challenge that the event log is a finite sample, but the model may describe infinitely many traces (due to loops).

van der Aalst, W.M.P.: Process Mining - Data Science in Action, 2nd edn. Springer, Heidelberg (2016). https://doi.org/10.1007/978-3-662-49851-4. ISBN 978-3-662-49850-7CrossRef

van der Aalst, W.M.P.: Lucent process models and translucent event logs. Fundam. Informaticae 169(1–2), 151–177 (2019). https://doi.org/10.3233/FI-2019-1842MathSciNetCrossRef

van der Aalst, W.M.P., Adriansyah, A., van Dongen, B.F.: Replaying history on process models for conformance checking and performance analysis. WIREs Data Mining Knowl. Discov. 2(2), 182–192 (2012). https://doi.org/10.1002/WIDM.1045CrossRef

van der Aalst, W.M.P., Stahl, C.: Modeling Business Processes - A Petri Net-Oriented Approach. Cooperative Information Systems series. MIT Press, Cambridge (2011). ISBN 978-0-262-01538-7

Adams, J.N., van der Aalst, W.M.P.: Precision and fitness in object-centric process mining. In: ICPM. IEEE (2021). https://doi.org/10.1109/ICPM53251.2021.9576886

Adriansyah, A., van Dongen, B.F., van der Aalst, W.M.P.: Conformance checking using cost-based fitness analysis. In: EDOC, pp. 55–64. IEEE (2011). https://doi.org/10.1109/EDOC.2011.12

Adriansyah, A., Munoz-Gama, J., Carmona, J., van Dongen, B.F., van der Aalst, W.M.P.: Alignment based precision checking. In: La Rosa, M., Soffer, P. (eds.) BPM Workshops. LNBIP, vol. 132. Springer, Heidelberg (2012). https://doi.org/10.1007/978-3-642-36285-9_15

Adriansyah, A., Munoz-Gama, J., Carmona, J., van Dongen, B.F., van der Aalst, W.M.P.: Measuring precision of modeled behavior. Inf. Syst. E Bus. Manag. 13(1), 37–67 (2015). https://doi.org/10.1007/S10257-014-0234-7

Beyel, H.H., van der Aalst, W.M.P.: Creating translucent event logs to improve process discovery. In: Montali, M., Senderovich, A., Weidlich, M. (eds.) ICPM Workshops. LNBIP, vol. 468. Springer, Cham (2022). https://doi.org/10.1007/978-3-031-27815-0_32

10.

vanden Broucke, S.K.L.M., De Weerdt, J., Baesens, B., Vanthienen, J.: Improved artificial negative event generation to enhance process event logs. In: Ralyté, J., Franch, X., Brinkkemper, S., Wrycza, S. (eds.) CAiSE 2012. LNCS, vol. 7328, pp. 254–269. Springer, Heidelberg (2012). https://doi.org/10.1007/978-3-642-31095-9_17CrossRef

11.

vanden Broucke, S.K.L.M., De Weerdt, J., Vanthienen, J., Baesens, B.: Determining process model precision and generalization with weighted artificial negative events. IEEE 26(8), 1877–1889 (2014). https://doi.org/10.1109/TKDE.2013.130

12.

Carmona, J., van Dongen, B.F., Solti, A., Weidlich, M.: Conformance Checking - Relating Processes and Models. Springer, Cham (2018). https://doi.org/10.1007/978-3-319-99414-7. ISBN 978-3-319-99413-0

13.

Chatain, T., Boltenhagen, M., Carmona, J.: Anti-alignments - measuring the precision of process models and event logs. Inf. Syst. 98, 101708 (2021). https://doi.org/10.1016/J.IS.2020.101708CrossRef

14.

Chatain, T., Carmona, J.: Anti-alignments in conformance checking - the dark side of process models. In: Kordon, F., Moldt, D. (eds.) PETRI NETS. LNCS, vol. 9698. Springer, Cham (2016). https://doi.org/10.1007/978-3-319-39086-4_15

15.

van Dongen, B.F., Carmona, J., Chatain, T.: A unified approach for measuring precision and generalization based on anti-alignments. In: La Rosa, M., Loos, P., Pastor, O. (eds.) BPM. LNCS, vol. 9850. Springer, Cham (2016). https://doi.org/10.1007/978-3-319-45348-4_3

16.

Goedertier, S., Martens, D., Vanthienen, J., Baesens, B.: Robust process discovery with artificial negative events. J. Mach. Learn. Res. 10, 1305–1340 (2009). https://doi.org/10.5555/1577069.1577113

17.

Hopcroft, J.E., Motwani, R., Ullman, J.D.: Introduction to Automata Theory, Languages, and Computation, 2nd edn. Addison-Wesley series in computer science. Addison-Wesley-Longman (2001). ISBN 978-0-201-44124-6

18.

Leemans, S.J.J., Polyvyanyy, A.: Stochastic-aware precision and recall measures for conformance checking in process mining. Inf. Syst. 115, 102197 (2023). https://doi.org/10.1016/J.IS.2023.102197CrossRef

19.

Munoz-Gama, J., Carmona, J.: A fresh look at precision in process conformance. In: Hull, R., Mendling, J., Tai, S. (eds.) BPM. LNCS, vol. 6336. Springer, Heidelberg (2010). https://doi.org/10.1007/978-3-642-15618-2_16

20.

De Weerdt, J., De Backer, M., Vanthienen, J., Baesens, B.: A robust F-measure for evaluating discovered process models. In: CIDM. IEEE (2011). https://doi.org/10.1109/CIDM.2011.5949428

Titel: Translucent Precision: Exploiting Enabling Information to Evaluate the Quality of Process Models
verfasst von: Harry Herbert Beyel
Wil M. P. van der Aalst
Verlag: Springer Nature Switzerland
Buch: Research Challenges in Information Science
Print ISBN: 978-3-031-59467-0

Electronic ISBN: 978-3-031-59468-7

Copyright-Jahr: 2024
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-031-59468-7_4

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Abstract

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